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주사탐침현미경

Multiprobe compact VT SPM

  • 시설장비활용번호 : KISTJB000168
  • 시설장비등록번호 : NFEC-2014-05-187181
  • 활용범위 : 공동활용서비스
  • 활용대상 : 기관외부활용
  • 예약방법 : 실시간예약
  • 관심장비등록 카달로그 메뉴얼
문의번호 ( KIST 전북분원 )
  • 예약문의 063-219-8405
  • 장비문의 063-219-8405
  • 장비활용중개소
    (ZEUS)
    1670-0925 ※ 운영시간 (09:00~18:00)
이용 요금
  • 이용요금
  • 이용료 안내
  • 이용방법
  • 제작사명 Omicron Nano Technology
  • 모델명 VT AFM XA
  • 구축일자 2013-07-24
  • 사용용도 none
  • 탄소공정 시험/평가
  • 5대수요산업 모빌리티 ,에너지환경 ,라이프케어 ,방산·우주·항공 ,건설
  • 6대 탄소소재 탄소섬유 ,활성탄소 ,인조흑연 ,카본블랙,탄소나노튜브,그래핀
  • 설치장소 한국과학기술연구원 전북분원 연구동
사용/활용예
  • 사용/활용예 위 장비는 매우 편평한 표면위의 형상을 원자수준의 레벨에서 관찰하는데 사용되고 있으며, 이 장비를 사용해서 현재 전세계적으로 활발하게 연구되고 있는 graphene, carbon nanotube 등을 포함한 다양한 물질의 물리적 구조를 관찰할 수 있습니다.
  • 장비설명 본장비는 나노물질을 원자수준에서 모양 관찰, 물리적 특성 분석, 전자기적 특성평가가 가능한 초정밀 분석 장비입니다. Scanning probe microscopy 의 대표적인 scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy 두 가지가 모두 1 x 10^-10mbar 부근의 ultrahigh vacuum 에서 구현이 가능합니다.
  • 구성 및 성능 1. 이미징 모드 : STM, AFM2. 진공 수준 : 1x10^-10 mbar3. XY해상도: Atomic resolution on S(111), HOPG4. 이미지 가능 온도: 25K 1500K 5. 이미지 가능영역: 10 μm x 10 μm 6. Z 해상도: < 0.01 nm 7. Tunneling current 범위: <1pA