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투과 전자 현미경

Transmission Electron Microscope

  • 시설장비활용번호 : KISTJB000186
  • 시설장비등록번호 : NFEC-2013-05-179408
  • 활용범위 : 공동활용서비스
  • 활용대상 : 기관외부활용
  • 예약방법 : 실시간예약
  • 관심장비등록 카달로그 메뉴얼
문의번호 ( KIST 전북분원 )
  • 예약문의 063-219-8144
  • 장비문의 063-219-8144
  • 장비활용중개소
    (ZEUS)
    1670-0925 ※ 운영시간 (09:00~18:00)
이용 요금
  • 이용요금
  • 이용료 안내
  • 이용방법
  • 제작사명 FEI
  • 모델명 Technai G2 F20
  • 구축일자 2012-10-05
  • 사용용도 none
  • 탄소공정 시험/평가
  • 5대수요산업 모빌리티 ,에너지환경 ,라이프케어 ,방산·우주·항공 ,건설
  • 6대 탄소소재
  • 설치장소 한국과학기술연구원 전북분원 연구동
사용/활용예
  • 사용/활용예 *투과전자현미경(transmission electron microscope; TEM)은 나노물질의 미세구조 관찰 화학성분 분석 전자기적 특성평가가 가능한 초정밀 분석 장비임. KIST 전북분원은 탄소섬유 탄소나노튜브 그래핀 등의 탄소소재와 그들의 복합소재를 핵심역량으로 하는 연구소로 다음과 같은 용도로 TEM을 활용 가능함. 1. 탄소소재 나노구조분석 (0123 차원 구조) 2. 탄소소재 결정성 분석 (Crystal Structure) 3. 탄소소재 또는 연관물질의 성분 분석 (EDX EELS Mapping Image) 4. 탄소소재 결점분석 (나노튜브 또는 그래핀의 결점 분석과 연구) 5. 탄소소재 이외 물질 (복합소재 무기물질)의 나노구조 및 성분 분석
  • 장비설명 투과전자현미경(transmission electron microscope; TEM)은 나노물질의 미세구조 관찰 화학성분 분석이 가능한 초정밀 분석 장비이며 특히 탄소물질 (탄소섬유 탄소나노튜브 그래핀..) 또는 복합소재의 구조 미세구조 분석과 성분 분석이 가능함. Sub nanometer 영역에서 물질의 구조를 볼 수 있는 소재분야의 중요한 장비임.
  • 구성 및 성능

    ○ TEM 의 specification.1. 가속전압 범위 20 - 200 kV2. 가속전압 안정성 1 ppm / min3. 에너지 분해능 0.7 eV4. 전자빔 조절모드 Micro/Nanoprobe 5. 전자빔 크기 단계 11 + 11 6. 최소전자빔 크기 <0.3 nm 7. 최대 수렴각 200 mrad8. TEM 점 분해능 0.24 nm 9. TEM 정보한계 0.13 nm10. TEM 격자분해능 0.1 nm

    ○ 본 시스템은 EDS STEM EELS의 기능이 있어 고 분해능의 이미지 뿐 아니라 성분을 분석할 수 있는 기능을 갖추고 있음.