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X-선 광전 분광기

X-ray Photoelectron Spectroscopy

  • 시설장비활용번호 : KISTJB000192
  • 시설장비등록번호 : NFEC-2013-04-177731
  • 활용범위 : 공동활용서비스
  • 활용대상 : 기관외부활용
  • 예약방법 : 실시간예약
  • 관심장비등록 카달로그 메뉴얼
문의번호 ( KIST 전북분원 )
  • 예약문의 063-219-8136
  • 장비문의 063-219-8136
  • 장비활용중개소
    (ZEUS)
    1670-0925 ※ 운영시간 (09:00~18:00)
이용 요금
  • 이용요금
  • 이용료 안내
  • 이용방법
  • 제작사명 Thermo Fisher Scientific
  • 모델명 K-Alpha
  • 구축일자 2012-10-05
  • 사용용도 none
  • 탄소공정 시험/평가
  • 5대수요산업 에너지환경 ,라이프케어
  • 6대 탄소소재 탄소섬유 ,활성탄소 ,인조흑연 ,카본블랙,탄소나노튜브,그래핀
  • 설치장소 한국과학기술연구원 전북분원 연구동
사용/활용예
  • 사용/활용예

    ○ 탄소섬유 탄소나노소재 및 탄소 복합소재의 표면 화학 분석

    ○ 반도체소재 박막 금속 화합물 유리 고분자 및 나노소재의 표면 분석

    ○ XPS System은 고체 시료의 표면 계면 및 다층막의 정성 및 정량 분석을 하는 표면분석 장비로 교내 여러 학과 및 외부의 다양한 시료를 분석하여야 합니다. 예상되는 시료는 반도체 화합물 반도체 금속 세라믹 polymer 이차 전지 thin-film (박막) glass 등 매우 다양합

  • 장비설명

    ○ Source로부터 방출되는 X-ray를 샘플에 조사하게 되면 원자의 종류에 따른 특정 광전자가 방출하게 되는데 이를 이용하여 특정 소재의 화학적 정성분석 및 정량 분석이 가능함 - XPS의 경우 얇은 투과성을 가지므로 표면의 분석을 위해 적합하며 depth profiling기능을 사용할 경우 일정두께 샘플의 깊이별 정성 및 정량 분석이 가능함. - 전자의 에너지 band 구조 화학적 결합상태와 깊이에 따른 조성변화 분석.

  • 구성 및 성능

    ○Analyzer - 180° double focusing hemispherical analyzer - 128-channel detector

    ○X-ray source - Al Kα micro-focused monochromator - Variable spot size

    ○Ion Gun - Energy range 100eV - 4eV