장비상세보기
문의번호 ( 한국생산기술연구원 )
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장비활용중개소
(ZEUS) 1670-0925 ※ 운영시간 (09:00~18:00)
이용 요금
- 이용요금 장비활용중개소에 문의
- 이용료 안내 장비활용중개소에 문의
- 이용방법 장비활용중개소에 문의
- 제작사명 Bruker
- 모델명 Innova-IRIS
- 구축일자 2017-09-21
- 사용용도 분석
- 탄소공정 시험/평가
- 5대수요산업 모빌리티 ,에너지환경 ,라이프케어 ,방산·우주·항공 ,건설
- 6대 탄소소재 탄소섬유 ,활성탄소 ,인조흑연 ,카본블랙,탄소나노튜브,그래핀
- 설치장소 한국생산기술연구원 실험동
사용/활용예
- 사용/활용예 - 표면처리 시제품 제작/개발 지원 ·파일럿장치 등을 이용한 시제품 제작지원시 센터에서 즉시 표면 또는 피막 품질 평가가능 ·표면 또는 피막 품질 평가결과를 활용한 시제품 공정 또는 조건 개선에 활용 - 표면처리 제품의 시험분석·평가 지원 ·표면처리 제품에 대한 표면형상(morphology) 이미지, 미세조도(roughness), 미세경도·물성(nano-indentation) 측정 ·표면 이미지 및 측정 결과의 수요처 제출, 자체 품질관리 등 산업체 지원에 활용 ·미세 범위 관찰을 통한 표면결함 분석
- 장비설명 -원자간 인력에 따라 3차원 형상 등 표면정보를 얻는 장비 -소재표면 국부 미소영역에 대해 정밀한 측정 및 분석가능(나노영역, 수~수십미크론 영역의 표면형상 및 특성분석) -morphology 및 roughness측정 -표면 마찰력, 전자기적 특성 분석 -나노인덴테이션기능 포함
- 구성 및 성능 -스캐너 측정범위: XY 스캔 범위: 80 ㎛ × 80 ㎛ 이상, Z 스캔 범위: 5 ㎛ 이상 -스캐너 분해능: XY: 0.1 nm 이하, Z: 0.01 nm 이하 -Z축 노이즈: 0.05 nm RMS 이하 -측정모드 Contact & Non Contact & Tapping Mode, Phase Imaging, Lateral Force Microscopy, Force-Distance & Curve, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electric Force Microscopy (EFM), Surface Potential Microscopy, Nanoindentation -최대 장착 가능 시료 크기:40mm x 40mm x 10mm 이상 -광학계(Optics): 배율 x10 이상, CCD: 5M 픽셀 이상
